gute aussichten_mustererkennung. junge deutsche fotografie

18. August – 14. Oktober 2012
MAKK – Museum für Angewandte Kunst Köln

Die Themenausstellung “gute aussichten_mustererkennung”, präsentiert 12 ausgewählte fotografische Positionen von “gute aussichten”- Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011. Sie wird kuratiert von Wibke von Bonin in enger Zusammenarbeit mit dem Museum für Angewandte Kunst Köln (MAKK).

Das Nachwuchsförderungs-Projekt “gute aussichten – junge deutsche fotografie” wurde 2004 von Josefine Raab und Stefan Becht als private Initiative gegründet. Den Kern des Projekts bildet ein jährlich stattfindender Wettbewerb der Abschlussarbeiten aus allen deutschen Hochschulen, Fachhochschulen und Akademien, die den Studiengang Fotografie anbieten.

Die Ausstellung “gute aussichten_mustererkennung. junge deutsche fotografie” demonstriert die große Bandbreite von Themen, mit denen sich junge Fotografen – oft über Jahre hinweg – intensiv auseinander setzen. Ob es dabei um reine Bildstrategien, um aktuelle politische Fragen, um historische Kontexte, mediale Übersetzungen oder die Vielschichtigkeit des Mediums geht – keine der Arbeiten begnügt sich mit der reinen Abbildung einer vermeintlichen Wirklichkeit.
Mit dem Bewusstsein, in einer Gegenwart zu leben, die in ihrer Komplexität für den Einzelnen kaum mehr zu erfassen ist und in ihrer Flüchtigkeit das Beziehen fester Positionen fast ausschließt, stellen sich die jungen Fotografen den existenziellen Fragen. Auf der Suche nach dem Wesentlichen in unserer Welt sind sie auf Strukturen und Texturen gestoßen, auf Flüchtigkeiten und Gefüge, die unser Dasein prägen. So lassen sie uns Zusammenhänge, Wiederholungen und Stereotypen erkennen – Muster.

Pressekonferenz: Freitag, 17. August 2012, 11 Uhr
Eröffnung: Freitag, 17. August 2012, 19 Uhr

MAKK – Museum für Angewandte Kunst Köln
An der Rechtschule
50667 Köln
www.makk.de

Öffnungszeiten
Di bis So 11-17 Uhr
1. Do im Monat 11-22 Uhr
Mo geschlossen

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